Hakemusnro
Application
number: | 981747 |
Hakemuksen
tyyppi
Application type: |
Patenttihakemus (kotimainen hakija) / Patent application (domestic applicant) |
Patenttinro/Rekisterinro
Patent No. / Registration No. : |
109942 |
Hakemuksen/Patentin
laji
Application/Patent type: |
Normaali hakemus / Ordinary application |
Julkiseksitulopvm
Publication
date: |
14.2.2000 |
Hakemispvm
Application date: |
13.8.1998 |
Hakemuksen
alkupvm
Effective (application) date: |
|
Myöntämispvm
Grant date: |
31.10.2002 |
Tila
Legal status: |
Hakemus jäänyt sillensä/Patentti rauennut / Application/Patent lapsed |
Maksettuja
vuosimaksuja
Paid annual fees: |
4 vuotta
/ years |
Vuosimaksun
maksupäivä
Last annual fee paid: |
21.1.2002 |
Etuoikeustiedot
Priority
information: |
|
IPC-luokat
IPC
classes: |
G01R 35/00
|
Tutkija
Examiner: |
Annikki Visapää
|
Hakija/haltija Applicant/owner: |
| Kauppinen, Pasi Kalevi |
| Hyttinen, Jari Aarne Kalevi |
| Malmivuo, Jaakko Antero Valdemar |
|
Keksijä Inventor: |
| Hyttinen, Jari Aarne Kalevi |
| Malmivuo, Jaakko Antero Valdemar |
| Kauppinen, Pasi Kalevi |
|
Nimitys
(suom. kiel.)
Title in Finnish: |
Menetelmä tetrapolaarisen impedanssimittausjärjestelmän testaamiseksi |
Nimitys
(ruots. kiel.)
Title in Swedish: |
Förfarande för testning av ett tetrapolärt impedansmätsystem |
| |
|
Katso
View: |
|